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公司介绍

北京伊微视科技有限公司是一家专注于提供先进显微、膜厚测量以及光电测试设备的企业。

Film sense薄膜厚度椭偏仪

Film Sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 秒测量，可以以极高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。Film Sense 偏仪非常适合在研究实验室教室，现场处理室，工业质量控制等等。

Profilm3D白光干涉轮廓仪

低成本-高精度
Filmetrics的 Profilm3D/Profilm3D-200让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用最先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。

F50薄膜厚度均匀性测量仪

依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。

Sinton WCT-120:硅片寿命的标准离线测试工具

WCT-120和WCT-120MX 仪器展示了我们独特的测量和分析技术，包括 sinton Instruments公司在 1994年开发的遵从 SEMI标准的准稳态光电导(QSSPC)寿命测量方法。
WCT-120仪器使用QSSPC和瞬态光电导衰减技术，可以测量10ns到10 ms+范围的硅片寿命。QSSPC 技术适用于监测多晶硅片、掺杂扩散及低寿命样品。瞬态光电导衰减技术适用于对高寿命样品的工艺进行逐步监控。
WCT-120寿命测试也会给出隐含开路电压(随光照强度变化的)曲线，相当于在电池工艺的每个阶段都能给出一条I-V曲线。

Sinton WCT-120:硅片寿命的标准离线测试工具

太阳能电池和硅片少子寿命测试

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