薄膜测量

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反射光谱仪
椭偏仪
XRF

Film sense薄膜厚度椭偏仪

Film Sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 秒测量，可以以极高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。Film Sense 偏仪非常适合在研究实验室教室，现场处理室，工业质量控制等等。

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